MRO工业品分类-返回电阻率测试仪

• 国产便携式四探针测试仪(0.01～1999.9Ω.cm)
  
  SKU:00237399
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  尚尤提供此款便携式四探针测试仪;
  该仪器为多用途综合测量设备，运用四探针测量原理，按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
  采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
  广泛应用于太阳能单晶（多晶）生产厂家为硅材料的分选测试，半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
  
• 国产便携式四探针测试仪(0.01～1999.9Ω.cm)
   SKU:00237399.1  便携式四探针测试仪；技术指标:测量范围:电阻率:0.01～1999.9Ω.cm；方块电阻:0.1～19999Ω/□；恒流源:电流量程分为100μA、1mA两档，各档电流连续可调；数字电压表:量程及表示形式:000.00～199.99mV；分辨力:10μV；输入阻抗:>1000MΩ；精度:±0.1%；显示:四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；四探针探头基本指标:间距:1±0.01mm；针间绝缘电阻:≥1000MΩ；机械游移率:≤0.3%；探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力:5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数(见探头附带的合格证)；模拟电阻测量相对误差(按JJG508-87进行):1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字；整机测量最大相对误差(用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试):≤±5%；整机测量标准不确定度:≤5%；外型尺寸:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)；标准使用环境:温度:23±2℃；相对湿度:≤65%；无高频干扰；无强光直射；产地:中国