- 国产数字式四探针测试仪(0.001-200Ω.cm)
SKU:00237391
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尚尤提供此款数字式四探针测试仪；
该仪器为多用途综合测量设备，运用四探针测量原理，按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器.
组成部分：由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成.
测量数据既可由主机直接显示.亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析.然后以表格.图形方式统计分析显示测试结果.
- 国产数字式四探针测试仪(0.001-200Ω.cm)
SKU:00237391.1 四探针测试仪；技术指标:测量范围:电阻率:0.001～200Ω.cm(可扩展)；方块电阻:0.01～2000Ω/□(可扩展)；电导率:0.005～1000 s/cm；电阻:0.001～200Ω.cm；可测晶片直径:140mmX150mm(配A型测试台)；200mmX200mm(配B型测试台)；400mmX500mm(配C型测试台)；恒流源:电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档，各档电流连续可调；数字电压表:量程及表示形式:000.00～199.99mV；分辨力:10μV；输入阻抗:>1000MΩ；精度:±0.1% ；显示:四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；四探针探头基本指标:间距:1±0.01mm；针间绝缘电阻:≥1000MΩ；机械游移率:≤0.3%；探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力:5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数(见探头附带的合格证)；模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87进行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字；整机测量最大相对误差 (用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5%；整机测量标准不确定度:≤5%；计算机通讯接口:并口；标准使用环境:温度:23±2℃；相对湿度:≤65%；无高频干扰；无强光直射；产地:中国
- 国产数字式四探针测试仪含测试软件
SKU:00237391.2 四探针测试仪，含测试软件；产地:中国；
- 国产2A型测试台
SKU:00237391.3 A型测试台；
载物台:方盘140mm×150mm,带刻度线；
有效行程:40mm；重量:2kg；
粗调手轮:20mm/圈；微调手轮:0.2mm/圈；
产地:中国
- 国产2B型测试台
SKU:00237391.4 B型测试台；
载物台:有效范围210mm×250mm；
有效行程:常规250mm，可增加到1000mm；
粗调手轮:20mm/圈；重量:3.5kg；
产地:中国；
- 国产2C型测试台
SKU:00237391.5 C型测试台；
载物台:有效范围400mm×500mm；
有效行程:常规250mm，可增加到1000mm；
粗调手轮:20mm/圈；重量:5kg；
产地:中国
- 数字式四探针测试仪(标准型)
SKU:00237391.6 探头；探针材料:高速钢；探针间距:1mm；探针直径:0.5mm；探针压力:5～8牛顿；应用:用于测薄片；产地:中国
- 国产高速钢探头
SKU:00237391.7 探头；探针材料:高速钢；探针间距:1mm；探针直径:0.5mm；探针压力:12～16牛顿；应用:用于测厚片或棒材 ；产地:中国
- 国产碳化钨针探头
SKU:00237391.8 探头；探针材料:碳化钨针；探针间距:1mm；探针直径:0.5mm；探针压力:5～8牛顿；应用:用于测薄片；产地:中国
- 国产碳化钨针探头
SKU:00237391.9 探头；探针材料:碳化钨针；探针间距:1mm；探针直径:0.5mm；探针压力:12～16牛顿；应用:用于测厚片或棒材；产地:中国
- 国产高速钢探针
SKU:00237391.10 探针材质:高速钢材料；同以上sku:237391.6和237391.7 四探针探头配用探针；产地:中国
- 国产碳化钨针
SKU:00237391.11 探针材质:碳化钨材料；同以上sku:237391.8和237391.9 四探针探头配用探针，产地:中国
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